တိုင်းတာခြင်းအမှားတန်ပြန်
လက်တွေ့တွင်, အတိုင်းအတာတိုင်းတာခြင်းအမှားအယွင်းများသည်၎င်း၏အရည်အသွေးနှင့် 0 န်ထမ်းများ၏လုပ်ငန်းလည်ပတ်မှု, နည်းပညာအဆင့်, နည်းပညာအဆင့်, ပထမ ဦး ဆုံးအနေနဲ့စစ်ဆေးနေတဲ့ 0 န်ထမ်းများ၏ပြည့်စုံသောအရည်အသွေးသည်စစ်ဆေးမှုစစ်ဆေးခြင်း၏တိကျမှန်ကန်မှုကိုသက်ရောက်သည်။ ဥပမာအားဖြင့်, အကြေးခွံများ၏တွန်းအားပေးခြင်းနှင့်ဟန်ချက်ညီမှုစွမ်းဆောင်ရည်ကိုစစ်ဆေးခြင်းတွင် Checker များသည် variabinity values conces များကိုစစ်ဆေးခြင်းကိုလျစ်လျူရှုရန်အလွန်လွယ်ကူသည်။ ဒုတိယအချက်မှာအကြေးခွံများကိုအဓိကအားဖြင့်အရာဝတ်ထုများ၏အလေးချိန်ကိုတိုင်းတာရန်အသုံးပြုသည်။ 4 င်းတို့၏လုပ်ဆောင်မှုအဆင့်ကို အခြေခံ. ၎င်းတို့ကိုလျှပ်စစ်ထိန်းချုပ်မှုများ, 0 န်ဆောင်မှုဆဲလ်များ, လူမှုသိပ္ပံနှင့်နည်းပညာဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုနှင့်အတူစကေး function system သည်အလွန်အမင်းပြောင်းလဲမှုများကိုရရှိခဲ့ပြီးရိုးရာတိုင်းတာခြင်းမှ modularization နှင့်ဉာဏ်ရည်ကိုတိုးတက်စေရန်လိုအပ်သောကြောင့်, တိုင်းတာခြင်းနည်းပညာတိုးတက်ရန်လိုအပ်သည်။
5 ဂရမ်, 10 ဂရမ်, 20 ဂရမ်, အများအားဖြင့်ကုန်သွယ်ရေးစျေးကွက်များနှင့်အခြားလယ်ကွင်းများတွင်အသုံးပြုသောအီလက်ထရောနစ်အကြေးခွံများအပါအ 0 င်, တိုင်းတာမှုအမှားဖြင့်တိုင်းတာနိုင်သောချိန်ခွင်လျှာကာလအတွင်းစံအလေးချိန်အချက်အလက်များသည်ကျိုးကြောင်းဆီလျော်သောအကြေးခွံများမှတိုင်းတာနိုင်သည်။ ၎င်းသည်ကျိုးကြောင်းဆီလျော်သောအကွာအဝေးအတွင်းအီလက်ထရောနစ်အကြေးခွံများ၏တိုင်းတာခြင်းအမှားကိုထိန်းချုပ်နိုင်သည်။ တစ်ချိန်တည်းမှာပင်လက်မှတ်ရေးထိုးထားသည့်အရာရှိက "အသိအမှတ်ပြုလက်မှတ်" ကိုအီလက်ထရောနစ်စကေးအခြေအနေနှင့်ကျိုးကြောင်းဆီလျော်စွာဖြည့်စွက်သင့်ပြီးအီလက်ထရောနစ်စကေး၏တိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာအကျိုးသက်ရောက်မှုကိုလည်းတိုးတက်စေနိုင်သည်။ တစ်ချိန်တည်းတွင်ထပ်ခါတလဲလဲစံကိုက်ညှိခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်တွင်စံကိုက်ညှိမှုရလဒ်များ၏တိကျမှန်ကန်မှုကိုတိုးတက်စေရန်စံကိုက်ညှိမှုရလဒ်များအတွက်စံနမူနာရှင်များကိုစံကိုက်ညှိရန်အတွက်အခြေအနေအမျိုးမျိုးတွင်အီလက်ထရောနစ်စကေးတိုင်းတာခြင်းကိရိယာများကိုထည့်သွင်းရန်လိုအပ်သည်။
အလေးချိန်စက်မှုလုပ်ငန်း၏အနာဂတ်ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုလမ်းကြောင်း၏တိုင်းတာခြင်း
တိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာအာရုံခံကိရိယာထုတ်လုပ်ခြင်းလုပ်ငန်းဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုကြောင့်ဒစ်ဂျစ်တယ်အာရုံခံကိရိယာများဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေးအတွက်ဒစ်ဂျစ်တယ်အာရုံခံကိရိယာများဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေးအတွက်ဒစ်ဂျစ်တယ်အာရုံခံကိရိယာများဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေးအတွက်ဒစ်ဂျစ်တယ်အီလက်ထရောနစ်အကြေးခွံများဖြင့်တိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာအကြေးခွံများမှတိုင်းတာခြင်းအကြေးခွံများမှကူးယူနိုင်သည့်အကြေးခွံများမှတည့်မတ်ပေးလိမ့်မည်။ အလိုအလျောက်မဟုတ်သောအကြေးခွံများသည်အလိုအလျောက်အကြေးခွံများနှင့်အများအားဖြင့်ဆက်လက်တိုးတက်နေလိမ့်မည်။ တိုင်းတာခြင်းအတိုင်းအတာအရတရုတ်နိုင်ငံ၏တိုင်းတာခြင်းအကြေးခွံများကိုအသုံးပြုခြင်းသည်တစ်ခုတည်းသော function တစ်ခုမဟုတ်ပါ, ထိန်းချုပ်ခြင်း, အလေးချိန်ရှိသောနည်းပညာနှင့်ပတ်သက်သည့်အတိုင်းသက်သောင့်သက်သာရှိသည့်အစဉ်အလာအနေအထားမှရိုးရာ static မှပြောင်းလဲလိမ့်မည်။ Analog Maiturement SPAN မှဒစ်ဂျစ်တယ်တိုင်းတာမှုသို့တိုင်းတာခြင်း - parameter တိုင်းတာခြင်းကိုတိုင်းတာသည်။ parameter တိုင်းတာခြင်းသည် Multi - Multi Multiement ဖြစ်သည်။ အတိုင်းအတာမြင့်မားသောတည်ငြိမ်မှု, တိကျမှုနှင့်တိုးတက်မှုမြင့်မားခြင်း, ထို့အပြင်တိုင်းတာခြင်းအကြေးခွံများသည်သတ္တိရှိရှိ, တိုင်းတာခြင်းအကြေးခွံများကိုတိုင်းတာခြင်း, ချိန်ညှိခြင်း, အလေးချိန်ရှိသောကိရိယာများကိုဆက်လက်လျှော့ချနိုင်ပြီးအမြင့်ကိုလျှော့ချလိမ့်မည်။ ဤလမ်းကြောင်းအရထုတ်ကုန်များ၏ယုံကြည်စိတ်ချရမှုနှင့်ဘက်စုံသုံးမှုများကိုများစွာတိုးတက်စေပြီးထုတ်လုပ်မှုအရည်အသွေးနှင့်အတိုင်းအတာထုတ်ကုန်များ၏အကျိုးသက်ရောက်မှုကိုပိုမိုအားကောင်းလာလိမ့်မည်။
အချိန် Post အချိန်: Sehe - 18 - 2023